小光束扫描狭缝轮廓仪硅探测器3.5mm 孔径1.8µm狭缝NanoScan2sSi3.51

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小光束扫描狭缝轮廓仪：硅探测器，3.5mm 孔径，1.8µm 狭缝

描述：

这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于小光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据采集速率、可选的功率测量功能，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，非常适合对 UV、可见光和 NIR 激光进行综合分析。